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ZEISS METROTOM三維 X 射線工業(yè)CT檢測(cè)

簡(jiǎn)要描述:ZEISS METROTOM三維 X 射線工業(yè)CT檢測(cè)
十二年來(lái),蔡司METROTOM系列一直為質(zhì)量控制提供可靠的CT技術(shù)。第三代計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)系統(tǒng)蔡司METROTOM 1500證明了*可靠的X射線技術(shù)不再是未來(lái)的愿景。今天,您可以使用面向未來(lái)的質(zhì)量控制。

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2023-10-06
  • 訪  問(wèn)  量:900

詳細(xì)介紹

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產(chǎn)品描述 ZEISS METROTOM三維 X 射線工業(yè)CT檢測(cè)

基于蔡司METROTOM 的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)ZEISS METROTOM三維 X 射線工業(yè)CT檢測(cè)

利用蔡司的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng),僅需一次 X 射線掃描,即可順利完成工件的測(cè)量和檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)收檢測(cè)、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺(tái),滿足客戶對(duì)精確性的高要求。
第三代新款蔡司METROTOM 1500
面向未來(lái)的質(zhì)量控制——今天
十二年來(lái),蔡司METROTOM系列一直為質(zhì)量控制提供可靠的CT技術(shù)。第三代計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)系統(tǒng)蔡司METROTOM 1500證明了*可靠的X射線技術(shù)不再是未來(lái)的愿景。今天,您可以使用面向未來(lái)的質(zhì)量控制。

蔡司METROTOM 1500(第2代與第3代)中鋁制部件的圖像比較。由于體素尺寸較小,新的3K檢測(cè)器可以以更高分辨率清晰顯示更小的細(xì)節(jié)。

看得更多。

在第三代系統(tǒng)中,新的3k檢測(cè)器可生成更高分辨率的3D體數(shù)據(jù)集,即更多體素可以檢測(cè)到更小的缺陷。

掃描更快。

通過(guò)檢測(cè)器的不同操作模式,掃描時(shí)間可減少多達(dá)75%,同時(shí)獲得與2k檢測(cè)器相當(dāng)?shù)捏w素尺寸。

蔡司METROTOM系列

METROTOM 800 130 kV

高精準(zhǔn)度

部件尺寸

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精度

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時(shí)間

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面積

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密度

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分辨率

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ZEISS METROTOM 6 scout

快速采集,高密度的部件

部件尺寸

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精度

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時(shí)間

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面積

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密度

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分辨率

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ZEISS METROTOM 800 225kV HR

快速獲取,高密度的部件和細(xì)節(jié)描述

部件尺寸

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精度

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面積

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密度

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分辨率

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ZEISS METROTOM 1500

即使對(duì)于非常大的部件也能實(shí)現(xiàn)更多的靈活

部件尺寸

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精度

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面積

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分辨率

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使用蔡司METROTOM輕松進(jìn)行測(cè)量

Measurement of a light metal component
輕金屬部件的測(cè)量檢驗(yàn)

測(cè)量與檢驗(yàn)整體部件

蔡司METROTOM是一種工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng),用于測(cè)量和檢查由塑料或輕金屬制成的完整部件。而在利用傳統(tǒng)測(cè)量機(jī)測(cè)量時(shí),此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過(guò)費(fèi)時(shí)的層層破壞方能獲得。

輕松且精準(zhǔn)地進(jìn)行多樣化特征檢測(cè)

利用蔡司METROTOM 計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測(cè)量結(jié)果非常精確,且具可追溯性。和接觸式測(cè)量方法不同,蔡司METROTOM 獲取海量測(cè)量點(diǎn)時(shí),時(shí)間顯著縮短。

Measurement of a base plug.
連接器的測(cè)量。

Comprehensive CT data analysis in 3D

The easy-to-use and even for beginners suitable analysis software GOM Volume Inspect allows complete CT data analysis in 3D. Geometries, shrinkage holes or internal structures and assemblies can be analysed precisely. Even the smallest defects become visible through individual sectional images and can be automatically evaluated according to various criteria. You can also load volume data of several components into a project, perform a trend analysis and compare the analysis with CAD data. In this way, the quality of your component can be exactly determined and documented - and all this in just one software.

DAkkS calibration for increased confidence

Higher quality standards in the automotive, medical or pharmaceutical industry often make it necessary to rely on accredited CT inspection procedures. These guarantee an objective, standard-compliant measurement of parts according to VDI/VDE 2630 part 1.3. DAkkS certification is accepted worldwide, which eliminates the costs for multiple assessments. Now the DAkkS calibration is also available for the computer tomographs of the ZEISS METROTOM 800 and 1500 series! Benefit from its advantages: save costs and create more trust for yo


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